高频阻抗史密斯圆图分析检测
高频阻抗史密斯圆图分析检测是一种用于评估和测量高频电路元件阻抗特性的技术。它通过史密斯圆图直观展示阻抗的实部和虚部,帮助工程师优化电路性能,确保电磁兼容性和信号完整性。
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